PHL偏振相机, PHL PI-110 偏振光相机能轻松连接到电脑,实​时观察到极化情况,自带软件,可以输出亮度,极化强度,偏振方向,方便地进行定量分析。   
产品货号:Micro Support Axis Pro 产地:日本 价格:询价 点击数:4034 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片
产品货号:PA-300 产地:日本 价格:询价 点击数:2894 商家询价
应力双折射测量系统WPA-200可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
产品货号:WPA-200 产地:日本 价格:询价 点击数:3176 商家询价
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
产品货号:LODAS 产地:日本 价格:询价 点击数:4103 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能
产品货号:PA-Micro 产地:日本 价格:询价 点击数:5359 商家询价
WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
产品货号:WPA-200-L 产地:日本 价格:询价 点击数:2418 商家询价
硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布,安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View,可以自由
产品货号:WPA-NIR 产地:日本 价格:询价 点击数:5990 商家询价
日本Lasertec公司以双共聚焦光学系为基础,搭载微分干涉观察,垂直白光干涉测定,相差干涉测定,反射分光膜厚测定等功能,通常多台设备才能完成的测试,仅需一台设备即可实现。  
产品货号:OPTELICS HYBRID+ 产地:日本 价格:询价 点击数:2614 商家询价
镜片的双折射现象会造成镜片成像性能(MTF)下降,智能手机所使用的镜片需要高解析度,因此需要减少双折射的影响,了解镜片的双折射的大小,是镜片生产过程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合这样的需求,并能高速完成各项测量。
产品货号:WPA-200-MT 产地:美国 价格:询价 点击数:5882 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。
产品货号:PA-300-L 产地:日本 价格:询价 点击数:2411 商家询价